1、研制背景

X-射線衍射分析法目前已廣泛應用于物相的定性或定量分析、晶體結構分析、材料結構分析、宏觀應力或微觀應力測定等方面。在不同溫度下測試的樣品物相可能會發生變化，原位X-射線衍射高低溫樣品臺可以為樣品提供良好的變溫測試條件，從而滿足樣品在不同溫度下的測試需求。

2、產品介紹

文天精策儀器科技（蘇州）有限公司開發的原位X-射線衍射高低溫樣品臺（下文簡稱XRD冷熱臺），產品系統主體包含XRD冷熱臺、位移樣品架、溫度控制系統、供氣或真空系統和循環冷卻系統。

XRD冷熱臺現有兩款產品，可以實現的溫度控制范圍分別為：-190°C~600°C，RT~1200°C，在空氣、惰性氣體或真空的環境條件，與常見的X-射線衍射儀配套使用。XRD冷熱臺適合各種類型的樣品在高低溫下進行X-射線結構研究，多種樣品架可配合反射和透射模式，支持在現有各種X-射線衍射儀（布魯克、賽默飛、理學等）上改造適配。

3、系統參數

4、系統特色

(1)      衍射角0-164°

(2)      真空腔室（10^-3 mbar）

(3)      負溫下吹氣除霜管路

(4)      可增加試樣溫度監測

(5)      可適配衍射儀定制樣品架

(6)      多種樣品架實現反射和透射

(7)      溫控精度高，可編程階梯控溫

(8)      電熱、液氮可實現快速升降溫

(9)      溫控范圍寬（-190~600℃ / RT~1200℃）

(10)  中低溫產品采用銀質冷熱傳導，均溫性好

(11)  高溫產品采用陶瓷加熱片，溫度傳感器靠近樣品，精準測量樣品溫度

5、相關案例（變溫X-射線衍射測試）

（1）X-射線衍射儀：賽默飛（Thermo Scientific）

粉末樣品填充

粉末樣品變溫測試

（2）X-射線衍射儀：理學（Rigaku）

鈦合金原位升降溫測試